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射频测试插座
射频测试插座
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本发明属于射频测试技术领域,具体涉及一种射频测试插座及测试方法.射频测试插座包括:绝缘壳体;射频端子,设于绝缘壳体;第一信号传导件,设于绝缘壳体内,与射频端子连接;第二信号传导件,设于绝缘壳体内,与射频端子连接;射频测试插座还包括:绝缘开关,活动连接于绝缘壳体;当绝缘开关活动至第一位置,所述绝缘开关驱动第一信号传导件以断开第一信号传导件与射频端子的连接;当绝缘开关活动至第二位置,所述绝缘开关驱动第二信号传导件以断开第二信号传导件与射频端子的连接.本发明的射频测试插座,通过绝缘开关选择所要导通的线路方向,实现射频线路的双向测试;兼容常用的Ipex连接器,无需特制的连接器和线缆,方便应用.