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最多可同步80个通道 Spectrum推出16位任意波形发生器

来源: eeworld
2019-05-20
类别:技术信息
eye 99
文章创建人 拍明

原标题:最多可同步80个通道 Spectrum推出16位任意波形发生器

  Spectrum仪器通过模块化设计理念,为有多通道AWG需求的客户提供了独特的解决方案。这张长度仅有168厘米的独立PCIe卡共提供了8个 AWG通道,为小巧且价格合理的测试系统提供了新的机遇。在Spectrum最新的65系列PCIe任意波形发生器中添加了两个新的8通道卡,意味着通过 Spectrum的Star-Hub,一台电脑中最多可以完全同步80个通道。

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  65 系列卡片都标配了一个容量为512MSamples的板载内存,用以存储和重放大量波形。使用PCIe-x4平台,这些AWG提供的数据传输速度比其它解决方案高5-10倍,提供700Mbyte/s的FIFO流速度。对于一些自动测试需要在多个通道重放许多不同测试信号以准确地重现真实的测试条件而言,Spectrum新款产品堪称是其最完美的解决方案。该系列产品的应用包括组件测试、汽车、机器人、航空航天、医疗、工业超声波、激光雷达、雷达和声呐领域。

  Spectrum首席技术官Oliver Rovini表示:“新系列AWG卡的噪音低于Spectrum旗下任何产品。与此前的AWG系列相比,噪音甚至降低20%以上。此外,这些卡的分辨率为 16位,精度为±1 ppm,是此前产品的20倍。目前,已经有一所大学的研究部门正在使用这款AWG来控制单个原子的位置。”

  新款产品的每张卡最多可提供8通道,这就显著降低了每个通道的成本。Spectrum AWG卡片解决方案的系统成本也明显低于专用的,价格昂贵的内置AWG解决方案。这使Spectrum的高性能测试价格更为亲民,并开辟了一些受到高成本限制的新领域。

  为了更好地模拟和刺激实际测试条件,这些卡的板载内存比其他AWG卡还要高。512MSample的内存使新产品能够更快地为使用直流到60兆赫频率范围的信号自动测试应用程序存储和重放更多高质量、高精度的波形。

  65 系列的两款新产品分别是具有8个40MS/s通道的M2P.6533-x4,和可配置8个80MS/s或4个125MS/s的M2P.6568-x4。与此前发布的能够提供4通道的六个型号不同,新的8通道版本配置了一个新的常规冷却系统。M2P.65系列的八款型号长度仅为PCIe卡的一半,即168毫米。即使是8通道版本的最大输出摆幅,在±6 V时的阻抗为1 mohm,而±3 V时为50 ohm。这些卡片还配备了Spectrum的SBench 6控制软件,方便新产品开箱后的控制与信号生成操作。

  完全的灵活性

  Spectrum 仪器首席执行官Gisela Hassler解释道:“Spectrum仪器所提供的卡解决方案为用户提供了超强的灵活性。在完全满足用户当前需求的同时,也能够随着测试环境的变化随意增添或更改现有的卡片。最重要的是,我们的API通用于旗下所有产品,因此在投资开发测试程序方面始终受到保护。不同于行业标准的一年保修期,Spectrum承诺的五年保修更进一步增强了对产品寿命的保护。我们的产品被广泛运用于工业、科学和长达多年的研究项目。因此,可靠的测试测量设备成为了关键因素。”

  AWG和数字化仪的结合

  一些需要连接AWG和数字化仪的应用,譬如刺激响应或闭环应用,Spectrum的Star-Hub驮载模块可同步多达16种不同的M2P级产品。新款M2P.65 系列AWG与2018年推出的M2P.59系列16位数字化仪能够完美匹配。M2P.59系列数字化仪能够提供1至8个通道,采样率在20MS/s和 125MS/s之间。Star-Hub向每个通道分配一个公共时钟和触发信号,以确保操作的完全同步。Star-Hub系统也非常适合需要同时受到不同测试信号刺激的多个测试点或传感器阵列的情况。

  轻松实现AWG控制和信号生成

  通过Spectrum的AWG来实现信号的控制与生成也变得非常简单和直接。这些卡能够任意编程,Spectrum所提供的免费驱动程序还可以支持诸如 C++、VB.NET、C#、J#、Delphi Java或Python等主流编程语言以及LabView和MATLAB等第三方软件工具。此外,用户能够轻松地运行Spectrum自主研发的软件 SBench 6专业版。

  能够集成到任何测试系统中

  一旦将AWG卡安装至PC,它就能够与其它测试和测量设备轻松实现集成。信号输出、时钟以及触发输入均通过前面板SMB连接器提供。前面板还包括四个多功能 MMCX连接器,用以完成不同的任务。其中包括额外的数字输出通道、时钟、触发器或状态输出级异步I/O线。这种高水平的连接性使AWG卡能够轻松适应大多数自动化测试系统环境。


责任编辑:HanFeng

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标签: 发生器

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